LSIレイアウトデザイン・LSIテスト設計

概要

数十年にわたるLSIレイアウトデザインの経験とノウハウを駆使し、幅広いプロセスノードに対応可能なソリューションを提供しています。また、最先端の技術を駆使して、信頼性の高いLSIテストを提供します。お客様のニーズに合わせたカスタム設計を行い、以下の特長を持つサービスを提供します。

・多様なプロセスノード対応：レガシープロセスから最先端のアドバンスノードまで、幅広いプロセスノードに対応し、最新の技術を活用した高性能なレイアウト設計を実現します。
・最適な設計ツール提案：EDAツールの豊富な経験を活かし、各社EDAツールから最適なツールチェーンを提案し、効率的な設計を実現します。
・強力なアライアンス：TSMCなどの主要な半導体メーカーとのアライアンスメンバーとして、最新のプロセス技術とリソースを活用し、最適なソリューションを提供します。
・高度なテスト技術：最新の機器と手法でLSIの機能と性能を徹底検証します。


◆アナログレイアウト設計
オペアンプ、ADC/DAC、PLL、電源管理ICなど、主要なアナログブロックやアナログICの設計実績が豊富です。
長年の設計経験に基づく深い知識とノウハウを活かし、ノイズ、電源管理、温度変動などのアナログ設計特有の課題に対応します。

◆デジタルインプリメント設計
プロセッサ、メモリ、インターフェースコントローラ、DSPなどの主要なデジタルブロックの設計から、チップ全体の設計と最適化まで幅広く対応しています。特に、先端プロセスノードでの大規模レイアウト設計において豊富な実績があります。
長年の設計経験に基づく深い知識とノウハウを活かし、タイミングクロージャ、パワーオプティマイゼーション、エリア効率化などのデジタル設計特有の課題に対応します。
論理合成、タイミング設計、DFT設計、P&R、物理検証それぞれの分野にスペシャリストが在籍しており、各工程での最適化と高品質な設計を実現します。

◆LSIテスト設計
最先端の技術を駆使して、信頼性の高いLSIテストを提供します。お客様のニーズに合わせたカスタマイズされたテスト設計とプログラム開発により、製品の品質と性能を最大限に引き出します。最新の機器と手法でLSIの機能と性能を徹底検証し、設計から製品化まで全フェーズをカバーする包括的なテストプロセスを実施します。

◆LSIテストプログラム開発
特定のLSI設計に最適なテストプログラムを開発し、テストの効率化と精度向上を実現します。
豊富な経験を活かし、歩留まりの改善とテスト時間の短縮を通じて、コスト削減に寄与します。
さらに、テスタの導入や装置の立ち上げに関するサポートも行っております。
お客様のニーズに合わせた包括的なサービスを提供し、製品の品質向上に貢献します。

【テスタ実績】
・ADVANTEST：T2000、V93K（SMT7、SMT8）
・TERADYNE：J750、UltraFlex、UltraFlexPlus

当社の設計サービスは、お客様の特定の要件に応じたカスタムソリューションを提供し、お客様のプロジェクトの成功をサポートします。ぜひ、お気軽にお問い合わせください。

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